نظام اختبار الحياة المتقطع

نظام اختبار الحياة المتقطع

نموذج المنتج

GK-Aiol-X8

GK-Aiol-X16

نطاق التطبيق

مناسبة لاختبار الحياة المتقطعة والثبات للثنائيات Si/SIC ، الترانزستورات ، MOSFETs ، IGBTs والأجهزة الأخرى في أشكال التعبئة المختلفة.

سمات

1 ، القياس في الوقت الفعلي لدرجة حرارة الوصلات TJ للعينة أثناء التجربة وعرض اختلاف درجة حرارة الوصلات △ TJ ؛

2 ، اعتماد تصميم معياري ، كل وحدة هي وحدة اختبار مستقلة. كل وحدة لديها غرفة اختبار مستقلة ، تحقق حقًا استقلالًا كاملاً بين المجالس. القنوات الجوية لكل وحدة اختبار لا تؤثر على بعضها البعض ؛

3 ، في وضع تصحيح الأخطاء ، سواء في حالة التشغيل أو خارجها ، يمكن جمع درجة حرارة التقاطع TJ كل ثانية ، ويمكن رسم منحنى تغيير درجة الحرارة الكامل لمنع تلف الجهاز عند البحث عن ظروف الاختبار ؛

4 ، يتم توصيل جميع المحطات بالتوازي ، ويبقى اختبار تيار الاختبار متسقًا ؛

5 ، مزودة بوظيفة تعويض VF ؛

6 ، وظيفة تركيب المنحنى ، الحصول على VF المقابل في الوقت t =0 ، وحساب TJ True tj

قناة اختبار

8 (لوحة واحدة ، منطقة واحدة)

16 (لوحة واحدة ، منطقة واحدة)

سعة الاختبار

48×8=384

48×16=768

الوظيفة الأساسية

① قناة EACH توفر مجموعة من إمدادات الطاقة المستقلة القابلة للبرمجة ؛

② اختبار المعلمات (Ton/Toff ، VGS ، IM ، IDS ، VDS ، وضع المروحة) ؛ دعم اكتشاف TJ لجميع محطات العمل ؛

③ for diodes و igbts ، يتم اعتماد وضع السلسلة ، ونطاق اختبار الاختبار لكل محطة عمل 0-20 a ؛ بالنسبة إلى MOS ، يتم اعتماد اتصال متوازي ، مع تيار ثابت في كل محطة عمل ؛

④ قناة EACH توفر مجموعة من إمدادات الطاقة المستقلة القابلة للبرمجة ؛

⑤ عرض الوقت الحقيقي لمعلمات الشيخوخة وتصوير منحنيات التغيير الكاملة ؛

⑥ الحكم الموقر حول ما إذا كان الحد الأقصى قد تم تجاوزه ، التنبيه لتجاوز الحد ، وتسجيل المحطة تجاوز وتجاوز الوقت ؛

الأبعاد الخارجية

W1140mmхh1820mmхd1320mm

W1620mmхh1820mmхd1320mm

وزن

حوالي 500 كجم

حوالي 800 كجم